半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种-上海自考网

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上海自考服务网> 试题题库列表页> 半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

2013年7月质量管理试卷真题

卷面总分：100分试卷年份：2013 是否有答案：有作答时间： 150分钟

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试题序号

18

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验

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新产品样机制成之后进行的评审，属于设计评审中的【】6-148

A、初期评审
B、中期评审
C、终期评审
D、销售准备状态评审

产品质量的最终裁判者是【】2-45

A、产品质量监督部门
B、公司领导
C、产品设计人员
D、顾客

欧洲质量奖的卓越绩效模型基于的基本价值观有【】2-45/46

A、结果导向
B、以顾客为中心
C、敏捷性
D、公共责任
E、人员发展与参与

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