半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种-上海自考网

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上海自考服务网> 试题题库列表页> 半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

2013年7月质量管理试卷真题

卷面总分：100分试卷年份：2013 是否有答案：有作答时间： 150分钟

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试题序号

18

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验

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新七种工具中唯一的定量分析方法是【】11-297

A、KJ法
B、矩阵图
C、矩阵数据分析法
D、过程决策程序图

日常运营绩效信息如产量、生产周期、生产率等，属于绩效测量指标的【】8-202

A、执行层面
B、过程层面
C、组织层面
D、计划层面

用来“表示质量特性波动与其潜在原因关系”的图表是【】11-276

A、流程图
B、排列图
C、关系图
D、石川图

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